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詳解人工晶狀體測試儀的五大組成部分

更新時(shí)間:2023-04-12 點(diǎn)擊次數(shù):599
  人工晶狀體測試儀是一種用于測量人工眼晶體光學(xué)性能的設(shè)備。原理是利用非接觸式探頭,測量人工晶狀體的光學(xué)性能、散光、偏置度和屈光度等。設(shè)備的光源產(chǎn)生可見光和紅外光譜線,并通過光電二極管傳感器接收來自光學(xué)元件的反射和透過光,生成對應(yīng)參數(shù)的輸出信號并通過波形圖或數(shù)字值進(jìn)行顯示和分析。隨著生物醫(yī)學(xué)和老年化社會(huì)的發(fā)展,白內(nèi)障手術(shù)和替換人工晶狀體的需求越來越大,測試人工晶狀體質(zhì)量成為了非常重要的工作。它可以分為五個(gè)部分:其中包含了一個(gè)光源、樣品夾持裝置、物鏡、檢測器和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
 
  光源:通常使用的是光纖光源,光源會(huì)對人工晶狀體產(chǎn)生光線,通過物鏡折射后匯聚到樣品上。
 
  樣品夾持裝置:用于固定待測人工晶狀體。人工晶狀體通常是由透明材質(zhì)制成,如PMMA、PC、硅膠等,它們光學(xué)性能與天然晶狀體有很大差異。
 
  物鏡:光線通過物鏡時(shí)可以集中到樣品表面上,并在樣品中反彈,這個(gè)過程中稱為全息干涉。
 
  檢測器:一般采用CCD或CMOS技術(shù)的高靈敏度探測器,檢測干涉的光線。在人工晶狀體測試時(shí),反射光匯聚不止一次。這產(chǎn)生了自發(fā)磷光和干涉光頻譜中復(fù)雜的含多個(gè)峰的性質(zhì).
 
  計(jì)算機(jī)系統(tǒng):通過接收CCD或CMOS檢測器檢測到的信號,在電腦上進(jìn)行分析處理,進(jìn)而得出樣品的光學(xué)參數(shù)。

人工晶狀體測試儀

 


 
  人工晶狀體測試儀在具體操作過程中,先將待測人工晶狀體放置在夾持裝置上,然后啟動(dòng)整個(gè)系統(tǒng)。系統(tǒng)啟動(dòng)后,計(jì)算機(jī)開始運(yùn)行控制程序,向物鏡和光源發(fā)出指令,從而使光線聚焦并照射到樣品表面。由于人工晶狀體具有高度幾何對稱性,在光束經(jīng)過之后會(huì)反射并形成拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),形成特征的全息干涉圖像。這些反射光產(chǎn)生的光斑被檢測器捕捉并跟蹤,累計(jì)到一定時(shí)間后,計(jì)算機(jī)程序就可以形成與人工晶狀體相關(guān)的各類光學(xué)信息,包括反射率、折射率、散射等所需的參數(shù)方便后續(xù)醫(yī)學(xué)人員針對患者的眼度制定適合的人工晶狀體。

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